HAST試驗箱
HAST試驗箱
用于評估非氣密性封裝IC器件（固態設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應力壽命老化試驗。
可滿足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等規范要求，3種控制模式包含：不飽和控制(乾濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。
可滿足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等規范要求，3種控制模式包含：不飽和控制(乾濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。
產品詳情
| 規格尺寸 | 內尺寸（Φx深D）mm | 外尺寸（寬Wx高Hx深D）mm | |
| 350 | 300×450 | 800×1200×1050 | |
| 450 | 400×550 | 900×1300×1150 | |
| 650 | 600×750 | 1100×1500×1350 | |
| 950 | 900×1050 | 1400×1800×1650 | |
| 性能 | 溫度范圍 | 100～+132℃ 100～+143℃ 100～+155℃ |
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| 壓力范圍 | 0.2～2kg/cm²（0.05～0.196MPa） 0.2～3kg/cm²（0.05～0.294MPa） 0.2～3.5kg/cm²（0.05～0.343MPa） |
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| 加壓時間 | ≤55min | ||
| 濕度范圍 | 65～100%RH | ||
| 溫度波動度 | ±0.5℃ | ||
| 溫度均勻度 | ±0.5℃（濕度100%RH），±1.0℃（濕度75%RH） | ||
| 溫度偏差 | ≤2.0℃ | ||
| 使用材料 | 內箱材質 | 316不銹鋼板 | |
| 外箱材質 | 304不銹鋼或冷軋鋼板烤漆 | ||
| 保溫材質 | 巖棉及硬質polyurethane發泡保溫 | ||
| 安全保護 | 傳感器保護、第一階段高溫/高壓保護、電壓過載保護、電壓監控、手動給水、錯誤停機自動泄壓、排水儲水、錯誤原因顯示機排解參考、記錄錯誤功能、接地泄露、濕度加熱器高溫報警、馬達過載保護、錯誤偵測機安全保護 | ||
| BIAS偏壓端子（選購） | 依據客戶需求定制 | ||
| 具體要求以規格書為準 | |||
